使用A1365线性传感器提高系统安全性 - raybet软件,raybet投注,raybet竞猜违法吗

使用带自检诊断模式的A1365可编程线性霍尔效应传感器IC提高系统安全性

作者：Wade Bussing，应雷竞技最新网址用工程师，
雷竞技竞猜下载Allegro微系统有限责任公司

摘要

本应用说明提供了在上实现自检诊断模式的指南A1365型从Alle雷竞技竞猜下载gro MicroSystems，以验证应用程序中的系统功能和安全性。要从Allegro MicroSystems了解更多关于A1365的信息，请参阅位于的设备数据表www.wasanxing.com。

介绍

汽车安全级别的出现刺激了安全要求的提高，使得IC和传感器的安全特性在某些应用中与目标性能规范一样重要。随着安全目标在整个系统设计过程中成倍增加，客户需要能够用于诊断系统异常的智能传感器。A1365的内置自检模式允许用户深入了解他们的系统。雷竞技最新网址

A1365上的自检模式覆盖整个信号路径，从模拟输出（V_出去)以及断层输出引脚连接到霍尔传感器。请参阅图1中A1365的方框图，其中以绿色突出显示了片上测试电压的注入点。

A1365的自检模式允许用户在任何时候验证模拟信号路径的连通性、静态输出电压的漂移以及过励磁故障信号路径的连通性和功能。通过比较自检模式期间测量的电压和各种计时，用户还可以评估任何外部设备的完整性，包括系统ADC和过电流故障控制设备。自检故障功能简化了A1365外部过电流故障电路的线端验证，而无需注入大量满量程电流
洋流。

自检模式旨在揭示霍尔路径中的严重单点故障，但不测试霍尔传感器本身的灵敏度。

启用自检模式

A1365 IC的所有销售版本都禁用了自检功能。然而，测试模式很容易启用使用Allegro A1365样本程序员和ASEK评估板。A1365示例程序员可在Allegro的软件门户网站https://registration.allegromicro.com。请联系您的销售代表以获取有关获取ASEK评估工具包的信息。

要在A1365上启用自检模式，请按“开机”按钮打开设备电源[1]在A1365示例上，程序员如图2所示。确认设备正常工作
通过验证V_{科科斯群岛}，我_{科科斯群岛}，并使用“更新”按钮按预期读取输出值[2].

编程器上的“内存”面板显示A1365设备上的所有可用寄存器，以及每个寄存器功能的简要说明[3]. 有关更多信息，请参阅图3。

选择“全选”按钮[4],接着是“读取选定内容”按钮[5],它将读回设备的内存内容，并用返回的数据填充代码和值列。在对设备内存进行任何更改之前，最佳做法是保存EEPROM内容的本地副本以恢复到。选择“保存”按钮[6]生成.csv或.txt文件以进行安全保管。

要启用自检模式，请参阅图4。向下滚动至字段“ST\ U DIS”（自检禁用）[7],选择“全部取消选择”按钮[8]，然后使用复选框仅选择“ST\ U DIS”字段。通过在单元格中键入“0”或选择“Zero Selected”按钮，将“stu DIS”代码列设置为“0”[9]在GUI上。准备好后，按“写入选定内容”按钮[10]将新值写入\EEPROM。最好的做法是读回相同的寄存器以验证更改。选择“读取选定内容”[11]确认“ST\ U DIS”位已清除。现在启用自检模式。

启动自检模式

一旦启用，可通过拉动A1365启动自检模式断层引脚低。设备未立即进入自检模式；设备断层引脚必须保持较低的时间段大于“自检开始时间”，才能进入自检诊断模式。自检开始时间可编程，并在编程字段“ST\ U Start\ U Time”中指定。有16个代码对应于12个离散的开始时间值。

表1列出了自检开始时间的可用代码及其相应的延时。
无花果
自检开始时间是从断层引脚电压（V_断层)低于自检阈值电压（V_第)直到传感器进入自检感应模式。传感器通过驱动模拟输出到自检低电压（V_STL公司). 如果在自检开始时间的任何时候，传感器检测到超过编程故障阈值的磁输入，自检定时器将复位。

图5中的曲线图显示了V的时间_出去达到V_STL公司之后断层A1365上所有自检开始时间代码的引脚都被拉低。

自检故障请求时间

自检故障请求模式允许用户验证A1365上用户编程的故障阈值。测试结束后，设备将进入自检故障模式断层pin释放的时间长于自检故障请求时间（ST\U FR\U时间）。

引脚释放后，但在自检故障请求时间到期之前，输出被驱动至自检高电压（V_某物). 当设备进入自检故障请求模式时
驱动装置达到饱和（V_SAT（高）).

表2中列出了自检故障请求时间（ST\u FR\u Time）及其相应延迟的可用代码。
无花果
在自检故障模式下，A1365将驱动V_出去进入饱和，都是V_{周六（小时）}和V_SAT（左）. 当V_出去如果超过用户编程的故障阈值（FLT\U THRESH），传感器的故障引脚将显示故障状况。注意，如果夹具启用，此模式将临时禁用夹具。

自检故障脉冲宽度时间

A1365将驱动并保持V_出去在自检故障脉冲宽度时间（ST\U FPW\U时间）定义的一段时间内对每个测试电压进行测试。自测故障脉冲宽度时间的可用代码及其对应的脉冲宽度时间如表3所示。

无花果

完成自检模式序列

整个自检模式序列如图6所示。自检模式期间施加的磁场必须为零。

对于图6中的情况，ST\ U START\ U TIME=50 ms，ST\ U FR\ U TIME=10 ms，ST\ U FPW\ U TIME=10 ms。自检和磁故障设置如图7所示。

自检顺序如下表所示。每个步骤对应于图7中绘图上的一个时间点。

A1365的断层引脚从外部拉低以启动自检模式。A1365此时仍能正确响应磁场。
设备在启动时间后进入自检检测模式，并驱动V_出去至V_STL公司.
五_出去保持在V_STL公司直到断层pin已释放。
五_出去被驱动到V_某物对于自检故障请求时间的持续时间，ST\u FR\u Time。
设备进入自检故障请求模式，V_出去被驱动到V_{周六（小时）}在第一时间断层pin被断言。
五_出去被驱动到QVO进行ST\U FPW\U时间（10 ms）和断层pin重置。
五_出去被驱动到V_SAT（左）对于ST\ FPW\ U时间（10 ms）和断层pin被断言。
自检程序完成，设备返回正常操作（任务模式）。

应用案例

A1365上的自检模式可用于验证A1365设备上的严重异常和单点故障。此功能还可用于确认其他系统设备（包括adc和故障控制电路）的完整性和时序。

图8中的应用示意图显示了这样一个系统。A1365安装在叠层磁芯的间隙中，用于感应导体中电流产生的磁场。模拟输出VOUT连接到ADC，而断层引脚连接到微控制器上的通用I/O引脚。假设I/O连接断层引脚在过电流情况下发出系统中断信号。此中断提示微控制器通过断开导体中的电流使系统处于安全状态。