使用带自检诊断模式的A1365可编程线性霍尔效应传感器IC提高系统安全性

使用带自检诊断模式的A1365可编程线性霍尔效应传感器IC提高系统安全性

应用工程师韦德·布辛,雷竞技最新网址
雷竞技竞猜下载Allegro微系统有限责任公司

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摘要

本应用说明提供了在上实施自检诊断模式的指南A1365来自All雷竞技竞猜下载egro MicroSystems,以验证应用程序中的系统功能和安全性。要从Allegro MicroSystems了解更多关于A1365的信息,请参阅www.wasanxing.com上的设备数据表。

介绍

汽车安全等级的出现刺激了安全要求的增加,使得IC和传感器安全功能在某些应用中与目标性能规格一样重要。随着安全目标在整个系统设计过程中成倍增加,客户需要可用于诊断系统异常的智能传感器。A1365的内置自检模式允许用户深入了解其系统。雷竞技最新网址

A1365的自检模式覆盖了整个信号路径,从模拟输出(V出来)及的错输出引脚至霍尔传感器的连接。参考图1中A1365的方框图,其中以绿色突出显示了片上测试电压的注入点。

A1365的自检模式允许用户在任何点验证模拟信号路径的连通性,静态输出电压的漂移,以及过场故障信号路径的连通性和功能。通过比较在自检模式下测量的电压和各种时间,用户还可以评估任何外部设备的完整性,包括系统adc和过流故障控制设备。自检故障功能简化了对A1365外部过流故障电路的线尾验证,无需注入大量程的负担
洋流。

自检模式旨在揭示霍尔路径中的严重单点故障,但不测试霍尔传感器本身的灵敏度。

图1:A1365功能框图
图1:A1365功能框图

启用自检模式

A1365 IC的所有销售版本都禁用了自检功能。然而,使用Allegro A1365样本编程器和ASEK评估板很容易启用测试模式。A1365示例程序员可在Allegro的软件门户网站https://registration.allegromicro.com.有关获取ASEK评估工具包的信息,请联系您的销售代表。

要在A1365上启用自检模式,请按“开机”按钮打开设备电源[1]在A1365示例上,程序员如图2所示。确认设备可运行
通过验证V科科斯群岛科科斯群岛,并使用“更新”按钮按预期读取输出值[2].

图2:A1365样本编程器的电源面板
图2:A1365样本编程器的电源面板

编程器上的“内存”面板显示A1365设备上的所有可用寄存器,以及每个寄存器功能的简要说明[3]。有关更多信息,请参阅图3。
图3:A1365示例程序员的内存面板
图3:来自
A1365样本编程器

选择“全选”按钮[4],然后是“读取所选内容”按钮[5],它将读回设备的内存内容,并用返回的数据填充代码和值列。在对设备内存进行任何更改之前,最佳做法是保存EEPROM内容的本地副本以恢复到。选择“保存”按钮[6]生成.csv或.txt文件以进行安全保管。

要启用Self-Test模式,请参见图4。向下滚动到字段“ST_DIS”(自检禁用)[7],选择“全部取消选择”按钮[8],然后使用复选框仅选择“ST_DIS”字段。通过在单元格中键入“0”或选择“零选择”按钮,将“ST_DIS”代码列设置为“0”[9]在GUI上。准备好后,按“写入所选内容”按钮[10]将新值写入\EEPROM。最佳做法是读回同一寄存器以验证更改。选择“读取选定项”[11]确认“ST_DIS”位已清除。自检模式现已启用。

图4:A1365示例程序员的自检启用
图4:从
A1365样本编程器

启动自检模式

一旦启用,自检模式可以通过拉A1365的启动的错引脚低。设备不会立即进入自检模式;设备的错引脚必须在大于“自检开始时间”的时间段内保持低位,才能进入自检诊断模式。自检开始时间可编程,并在编程字段“ST_开始时间”中指定。有16个代码对应12个离散的开始时间值。

表1列出了自检开始时间的可用代码及其相应的时间延迟。
无花果
自检开始时间是从的错引脚电压(V的错)低于自检阈值电压(VSTTH)直到传感器进入自检检测模式。传感器通过将模拟输出驱动至自检低电压(V)进入自检检测模式STL).如果在自检开始时间的任何时间点,传感器检测到磁性输入超过编程故障阈值,自检计时器将复位。

图5中的曲线图显示了V的时间出来到达STL之后的错A1365上的所有自检开始时间代码的针脚都处于低位。

图5:所有代码的自检开始时间
图5:所有代码的自检开始时间

自检故障请求时间

自检故障请求模式允许用户验证A1365上用户编程的故障阈值。设备将在测试后进入自检故障模式的错释放pin的时间长于自检故障请求时间(ST\U FR\U时间)。

引脚释放后,但在自检故障请求时间到期之前,输出被驱动至自检高电压(V某物).当设备进入自检故障请求模式时
设备被驱动至饱和(VSAT(高)).

表2中列出了自检故障请求时间(ST_FR_时间)及其相应延迟的可用代码。
无花果
在自检故障模式下,A1365将驱动V出来进入饱和状态时,两个V星期六(小时)和VSAT(L).当出来当超过用户编程的故障阈值(FLT_THRESH)时,传感器的故障引脚将显示故障状态。请注意,如果夹具启用,此模式将暂时禁用夹具。

自检故障脉宽时间

A1365将驱动并保持V出来在自检故障脉冲宽度时间(ST_FPW_时间)规定的周期内,对每个测试电压进行测试。表3列出了自检故障脉冲宽度时间的可用代码及其相应的脉冲宽度时间。

无花果

完整自检模式序列

整个自检模式序列如图6所示。自检模式期间施加的磁场必须为零。

图6:自检模式顺序
图6:自检模式顺序
对于图6中的情况,ST_开始时间=50 ms,ST_FR_时间=10 ms,ST_FPW_时间=10 ms。自检和磁故障设置如图7所示。
图7:图6中序列的自检和故障设置
图7:自检和故障设置
对于图6中的序列

下面的列表中描述了自检顺序。每个步骤对应于图7中曲线图上的一个时间点。

  1. A1365的的错引脚从外部拉低,以启动自检模式。A1365此时仍能正确响应磁场。
  2. 设备在ST_启动时间后进入自检检测模式,并驱动V出来到VSTL.
  3. v出来保持不变STL直到的错pin被释放。
  4. v出来汽车开到V某物对于自检故障请求时间的持续时间,ST_FR_Time。
  5. 设备进入自检故障请求模式,V出来汽车开到V星期六(小时)对于ST_FPW_时间和的错pin被断言。
  6. v出来被驱动至QVO进行ST_FPW_时间(10 ms)和的错引脚复位。
  7. v出来汽车开到VSAT(L)对于ST_FPW_时间(10 ms)和的错pin被断言。
  8. 自检程序完成,设备返回正常操作(任务模式)。

应用案例

A1365上的自检模式可用于验证A1365设备上的严重异常和单点故障。此功能还可用于确认其他系统设备(包括ADC和故障控制电路)的完整性和定时。

图8中的应用程序示意图显示了这样一个系统。A1365安装在叠层铁芯的缝隙中,用于检测导体中电流产生的磁场。模拟输出,VOUT,连接到ADC的错引脚连接到微控制器上的通用I/O引脚。假设I/O引脚已连接的错引脚在过流情况下发出系统中断信号。这个中断通过断开导体中的电流来提示微控制器将系统置于安全状态。

图8:A1365、ADC和过电流故障控制的应用示意图
图8:A1365、ADC和过电流故障控制的应用示意图

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