A1333:安全を重視するアプリケーションに、診断機能内蔵の精密、高速、ホール効果角度センサーIC

A1333は円形垂直ホールセンサー（CVH）テクノロジーに基づいた360°対応の非接触、低レイテンシーで高分解能の角度センサーICです。システム オン チップ (SoC) のアーキテクチャーにCVHフロントエンド、デジタル信号処理、モーター通信（UVW）またはエンコーダー出力出力（A、B、I）を搭載しています。また、較正パラメーターの最終工程での柔軟なプログラミングのため、最大100回までの読み込み/書き込みサイクルに対応したオンチップのEEPROMを搭載しています。

A1333は、電子式パワーステアリング（EPS）、ロータリーPRNDL、アクセルシステムなどの、0°～360°の角度測定を要する車載アプリケーションに最適です。

A1333は安全が重要なアプリケーションへのカスタム内蔵に対応しています。

A1333はデュアル ダイ、24ピンeTSSOP、およびシングル ダイ、14ピンTSSOPパッケージで提供されます。これらのパッケージは鉛フリーで、リードフレームは 100% 無光沢錫でめっき加工されています。

Allegroのシングル ダイ、デュアル ダイA1333デバイスはISO 26262:2011の安全に重要なアプリケーション用のハードウェア製品開発要件に準拠して設計されています（評価待ち）。A1333安全マニュアル記載の通りに適切なシステムレベルのコントロールに従って内蔵、使用された場合、シングルダイバージョンはASIL B要件を、デュアルダイバージョンははASIL D要件を満足するように設計されています。

• 角度位置、回転速度、方向測定用非接触0°～360°角度センサーIC
  • 900Gの磁場で12bの実行分解能を目標とする磁界回転速度を検知可能
  • 円形垂直ホール(CVH)技術の採用で、様々なエアギャップでの動作に対応したシングルチャネルのセンサーシステムを実現
• ISO 26262:2011の安全に重要なアプリケーション用のハードウェア製品開発要件に準拠して開発（評価待ち）
  • シングルダイバージョンはA1333安全マニュアル記載の通り、適切なシステムレベルのコントロールに従って内蔵、使用された場合、ASIL B要件を満足するように設計
  • デュアルダイバージョンはA1333安全マニュアル記載の通り、適切なシステムレベルのコントロールに従って内蔵、使用された場合、ASIL D要件を満足するように設計
• 高度な診断機能
  • オンチップ診断には論理組込みセルフテスト（LBIST）、信号経路診断、安全に重要な（ASIL）アプリケーション用ウォッチドッグを搭載
  • SPIに4ビットCRC
• オンチップのEEPROMに工場出荷時、およびカスタマーの較正パラメーターを格納
  • エラー訂正コントロール（エラー訂正コントロール）の使用でシングルビットエラー訂正、デュアルビットエラー検出
• 12Vのバッテリーへの直結など、車載、産業用アプリケーションでの過酷な動作条件に対応
  • 動作温度範囲–40°C～150°C
  • 動作電源電圧範囲4.0～16.5 V
    • 最大39VまでISO 7637-2 Pulse 5bに対応
• 複数の出力フォーマットへの対応でシステム内蔵が容易
  • ABI/UVW出力が初期位置に高分解能、低レイテンシー、PWMを提供
  • 10 MHz SPIで低レイテンシー角度と診断情報を提供し、複数の独立したICを同じバスに接続可能
  • ABIとUVWの出力分解能は選択可能
• 複数のプログラミング、設定フォーマットに対応
  • システムはEEPROMを含みSPI上で完全に制御、プログラム可能
  • ピン制限のあるシステムにはVCC、PWMピンでも書き込み、読み出し可能。このため生産ラインでABI/UVWとPWMピンのみを接続してEEPROMの設定が可能。
• 積層ダイ構造でダイ間のマッチングを向上し、冗長センサーを要するシステムに最適
• 特定の磁石直径に対して、並列方向のデュアルダイに比べてダイ間マッチングの磁石不整合の影響を軽減